Тел.:   +7-495-781-4506
Факс.: +7-495-781-4507
Главная О компании Каталог продукции Спецпредложения Услуги Новости Контакты
Спецификации и параметры товара

Талисурф CCI

Микроструктура поверхности – одна важнейших характеристик, определяющих функциональные свойства изделий. Прибор для бесконтактных измерений микроструктуры поверхности - Talysurf CCI применяется для бесконтактного измерения широкого круга поверхностей – от «сверхгладких», с высотами неровностей на уровне ангстрема, до поверхностей после стандартных видов обработки (высоты неровностей профиля до 400 мкм). Соответственно область применения приборов довольно широка, и прибор может быть сконфигурирован в зависимости от поставленной задачи.

Особенности прибора

  • Быстрые, бесконтактные измерения
  • Высокое разрешение по вертикали
  • 1,000,000 точек данных и более
  • 0.4мкм разрешение по горизонтали
  • Великолепная воспроизводимость и точность
  • Простое в использование программного обеспечения
  • Быстрый процесс калибровки
  • 2-х и 3-х размерное представление профиля поверхностей
  • Большой диапазон специальных приложений

Безупречная оптическая интерферометрия

  • Вертикальный диапазон 2,2 мм при использовании сканера по оси Z с замкнутым циклом, без пьезоэлемента.
  • Разрешение 0,1 ангстрема на всем диапазоне измерений.
  • Массив до 2048×2048 пикселей, обеспечивающий широкое поле обзора с высоким разрешением.
  • Применим к поверхностям с отражательной способностью от 0,3% до 100%.

Практически полное отсутствие погрешностей измерения

  • Повторяемость (СКО) <0,2 ангстрема, повторяемость измерения высоты ступеньки <0,1%
  • оптимизированная для FEA механическая конструкция с отличной повторяемостью и воспроизводимостью.
  • Калибровка системы по стандартам ISO, гарантирующая достоверность результатов.
  • Функции автоматической настройки, обеспечивающие невозможную при ручной настройке стабильность.

Оптический анализ поверхностей

  • Автоматическое распознавание поверхности
  • Автоматическая настройка диапазона
  • Универсальная методика измерения

Многообразие областей применения

Профилометр модели CCI, созданный с учетом опыта исследователей и ученых, соответствует самым жестким требованиям к измерению, в том числе и в таких быстро развивающихся отраслях, как солнечная энергетика, оптика и медтехника. В сочетании с мощным ПО для анализа размеров и шероховатости он представляет собой идеальный контрольный инструмент практически для любой области применения.

Многие пользователи обращаются к прибору Talysurf  CCI для решения проблем измерения, с которыми просто не могут справиться другие приборы. В то же время при своем исключительном диапазоне, разрешении и простоте в эксплуатации данный профилометр идеально подходит для исследований  и контроля качества обработки мамых различных деталей из различных материалов.

  • Толщина тонкой пленки
  • Толщина толстой пленки
  • Солнечные элементы 1-го поколения
  • Солнечные элементы 2-го поколения
  • СИД
  • MEMS
  • Шероховатость пластины
  • Исследование материалов
  • Хранилища данных
  • Покрытие коленвала
  • Полированная оптика
  • Текстурированная сталь
  • Алмазное точение
  • Медицинские имплантаты
  • Автомобильные инжекторы
  • Толщина слоя смазки
  • Шероховатость подшипника
  • Бумага/тонер

 

Измерение сферы

 

Погрешность формы

 

Измерение микро электромеханических систем

 

 

Текстурированная сталь

              

 

Поверхности после алмазного точения

       

 

Измерение DVD линз

 

Новые мощные программные функции

Управляющее ПО

Теперь, когда появились 64-разрядные процессоры, управляющее программное обеспечение CCI стало более гибким, быстрым и эффективным в целом. Поддержка всех основных платформ дает возможность совместно вести исследовательские проекты и разрабатывать усовершенствованные приложения.

Программа анализа профиля поверхности Talymap

Исследовательские лаборатории, заводы и университеты всего мира предпочитают использовать для анализа поверхностей программу Talymap.

Она применяется для разработки продукции, совершенствования процессов обработки, предикативного анализа поведения и плановых проверок во многих секторах экономики.

Группа специалистов по метрологии, разработке программного обеспечения постоянно совершенствует TalyMap в соответствии с текущими и будущими потребностями метрологии поверхностей.

Программное обеспечение TalyMap нового поколения полностью соответствует недавно разработанному 3D-стандарту ISO 25178 и гарантирует единство измерений и оценки. В числе новых функций анализа – четырехмерный анализ эволюции трехмерных изображений с изменением времени, давления и других физических параметров.

Помимо функции создания фотореалистичных полноцветных изображений в программе TalyMap имеются средства повышения производительности (например, шаблоны повторяющихся задач и возможность автоматически генерировать отчеты по пакетам данных измерений).

  

 

         

 

 

Программные модули и параметры анализа:

2-мерные параметры
Основные (без фильтрации) Pa, Pc, Pdc, Pdq, PHSC*,PHtp, Pku, Plo, Plq, Pmr*, Pp, PPc*, Pq, Prms, Psk, PSm,Pt, Ptp, Pv, Py, Pz, Pz(JIS), P3z, Pfd, Pda, Pla, PH, PD, PS,Pvo
Волнистость (с фильтрацией) Wa, Wc, Wdc*, Wdq,WHSC*, WHtp, Wku, Wlo, Wlq, Wmr*, Wp, WPc*, Wq,Wrms, Wsk, WSm, Wt, Wtm, Wtp, Wv, Wy, Wz, Wz(JIS),W3z, Wda, Wla, Wmax, WH, WD, WS, Wvo
Шероховатость (с фильтрацией) Ra, Rc, Rdc*, Rdq,RHSC*, RHtp, Rku, Rlo, Rlq, Rmr*, Rp, RPc*, Rq, Rrms,Rsk, RSm, Rt, Rtm, Rtp, Rv, Ry, Rz, Rz(JIS), R3z, Rfd, Rda,Rla, Rmax, RH, RD, RS, Rvo
Rk (DIN 4776, ISO 13565-2) A1, A2, Mr1, Mr2, Rk, Rpk, Rvk, Rpk*, Rvk*
R&W (ISO 12085) AR, AW, HTrc, Pt, R, Rke, Rpke, Rvke, Rx, Trc, W, Wte, Wx,Kr, Nr, SR, SAR, Kw, Nw, SW, SAW

Прямолинейность (ISO 12780)

STRt, STRp, STRv, STRq 

3-мерные параметры
Амплитуда Sa, Sq, Sp, Sv, St, Ssk, Sku, Sz
Площадь и объем Stp, SHtp, Smmr, Smvr, Smr, Sdc
Функциональные Sk, Spk, Svk, Sr1, Sr2, Sbi, Sci, Svi, Sm, Vv, Vm, Vmp,Vmc, Vvc, Vvv
Ровность FLt, FLTp, FLTs, FLTq, FLTv
Гибридные и пространственные Sdq, Ssc, Sdr Spc, Sds, Str, Sal, Std, Sfd
Анализ данных Высота ступеньки, расстояние по горизонтали, уголнаклона, размер угла, количество вершин, интерактивная кривая Эббота-Файрстоуна, объем островов, автокорелляция, фрактальный анализ, анализ рисунка, анализ частоты, исправление данных 
Фильтры Гауссов, надежный гауссов, сплайн, импульсный, надежный импульсный и морфологический
Дополнительные модули Crown, Cross-crown & Twist, Laser Zone Texture, AdvancedProfile PSD, Advanced Data Stitching

 

Объективы CCI

Для системы Talysurf CCI существуют самые разные объективы. Выбор зависит от области применения. Ключевые параметры:

  • Поле обзора: определяетобласть измерения.
  • Оптическое разрешение: определяет наименьший размер различаемых объектов.
  • Уклон: важен для изогнутых и шероховатых поверхностей. Чем больше шероховатость поверхности, тем больше углы наклона.